esd 測試
靜電放電(Electrostatic Discharge,簡稱ESD)的產生有可能會破壞半導體元件,導致積體電路的功能永久失效,因此ESD防護能力是IC設計必驗證的項目。
因此系統及ESD測試比HBM測試具更高能量的電流波形。 IEC 61000-4-2定義兩種測試方式:接觸放電與空氣放電。接觸放電是將ESD靜電槍直接接觸被測物,例如
SGS是全世界檢驗、測試與驗證的領導品牌。SGS提供的服務具有全球性品質與公正的保證。 針對半導體廠及工業電機產品產生的靜電(ESD), 影響產品生產及品質的現象,
ESD是什麼?靜電放電的潛在風險為何? ESD靜電放電測試(Electrostatic Discharge Testing)是一種關鍵性的測試程序,旨在保障電子設備在實際操作中免於靜電放電所帶來的損害。
根據IEC 61000-4-2標準,定義了兩種ESD測試方法,第一種是接觸放電,其中ESD發生器的電極與被測設備(EUT)的導電部分直接接觸。另一種方法是空氣放電,其中ESD
因ESD產生的原因及其對積體電路放電的方式不同,. ESD目前被分類為下列四類: (1) 人體放電模式(Human-Body Model, HBM). (2) 機器放電模式(Machine Model, MM).